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杭州电子科技大学2016年同等学力加试考试大纲(材料分析测试技术)
来源:杭州电子科技大学 阅读:706 次 日期:2015-09-25 11:01:33
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学院:材料与环境工程学院

加试科目:材料分析测试技术

第一章 材料结构基础

1.2晶体结构

1.3 固体的能带理论

第二章 X射线衍射

2.1 X射线衍射方程

2.2电子对X射线的散射

2.3 原子对X射线的散射

2.4 晶胞对X射线的散射

2.5 晶体的衍射

2.6 X射线衍射仪的应用

第三章 电子衍射分析及应用

3.1 电子衍射基本公式

3.2电子衍射成像原理与衍射花样特征

3.3 高能电子衍射原理与应用

3.4 低能电子衍射与应用

第四章 透射电子显微镜

4.1 透射电子显微镜的工作原理与结构

4.2 透射电子显微镜的应用

4.3 试样制备

4.4 透射电子显微镜的应用

第五章 扫描电子显微镜及电子探针技术

5.1 扫描电镜的工作

5.2 扫描电镜的结构

5.3 扫描电镜图像及其衬度

5.4 二次电子像

5.5 背散射电子像

5.6 电子探针显微分析(EDX)的原理及应用

第六章 扫描隧道显微镜与原子力显微镜

6.1 扫描隧道显微镜的基本原理

6.2 扫描隧道显微镜与扫描电子显微镜的区别

6.3 原子力显微镜的基本原理与应用

6.4 原子力显微镜的基本原理

第七章. 紫外-可见光谱技术

7.1 紫外-可见光谱仪的基本原理。

7.2 紫外-可见光谱仪在材料分析测试中的应用。

第八章. 荧光光谱技术

8.1材料的光致发光

8.2 荧光光谱的基本原理

8.2 荧光光谱在材料分析中的应用

主要参考书:

廖晓玲,材料现代测试技术,冶金工业出版社,ISBN: 9787502453350

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